您现在的位置是：首页 >要闻 > 2024-05-10 16:41:26 来源：
可控硅测量方法图解 好坏（可控硅测量方法图解）
导读 大家好，我是小夏，我来为大家解答以上问题。可控硅测量方法图解 好坏，可控硅测量方法图解很多人还不知道，现在让我们一起来看看吧！1、...
大家好，我是小夏，我来为大家解答以上问题。可控硅测量方法图解 好坏，可控硅测量方法图解很多人还不知道，现在让我们一起来看看吧！
1、晶闸管又叫可控硅(Silicon Controlled Rectifier, SCR)。
2、第一层P型半导体引出的电极叫阳极A，第三层P型半导体引出的电极叫控制极G，第四层N型半导体引出的电极叫阴极K。K阴极、G控制极之间是一个PN结，不完全PN结，它的反向电阻不是很大； 当你拿到晶闸管时，用万用表（指针式）电阻当R×1或R×10，两表笔测量，找出正反电阻有差别的两极； 这时，电阻读数小时的黑表笔接的极就是P即控制极G，红表笔接的是N即阴极K ，第三个极就使A阳极； 如果三个极之间都是导通的，电阻为零，则该晶闸管已击穿损坏.
本文到此讲解完毕了，希望对大家有帮助。
